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Halbleiterreinigungsmaschine
Created with Pixso. Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger - 40KHz-80KHz Ultraschall alkalische/säurige Reinigung + Spülung mit reinem Wasser, 60°C

Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger - 40KHz-80KHz Ultraschall alkalische/säurige Reinigung + Spülung mit reinem Wasser, 60°C

Markenbezeichnung: Jietai
Modellnummer: JTM-100504AD
MOQ: 1
Preis: ¥800000
Lieferzeit: 30-60 Arbeitstage
Zahlungsbedingungen: t/t
Einzelheiten
Herkunftsort:
Dongguan, Guangdong
Zertifizierung:
CE, FCC, ROHS, etc.
Type:
Ultraschall-Alkalireinigung+Ultraschall-Säurereinigung+Reinwasser-Spülung
Reinigungsfrequenz:
40KHZ/80KHZ
Anzahl der Tanks:
10
Leistung:
120 kW
Gesamtabmessungen:
12M*2M*2.8M
Modell:
JTM-100504AD
Name:
Halbleiterreinigungsmaschine
Reinigungstemperatur:
60°C
Verpackung Informationen:
Verpackung: Holzgehäuse, Holzrahmen, Dehnfolie Abmessungen: 12 M*2 M*2,8 M
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
Eine Einheit, das dauert 30 bis 60 Tage.
Produktbeschreibung

Produktvorstellung: Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger
Speziell für die Halbleiterindustrie entwickelt, integriert diese hochpräzise Reinigungsanlage mehrstufige Ultraschallprozesse, um ultrareine Oberflächen auf Siliziumwafern zu erzielen, eine entscheidende Voraussetzung für die Gewährleistung einer hohen Ausbeute und Zuverlässigkeit in der Herstellung mikroelektronischer Bauelemente.
Kernreinigungsprozesse:
  • Ultraschall-Alkalireinigung: Nutzt Ultraschallkavitation in alkalischen Lösungen, um organische Verunreinigungen, Fotolackrückstände und große Partikel effektiv von Waferoberflächen und Mikrostrukturen zu entfernen. Die kontrollierte Energie, die durch Ultraschallwellen erzeugt wird, gewährleistet eine gründliche Reinigung auch in komplizierten Mustern und bereitet die Wafer auf die anschließende Säurebehandlung vor.
  • Ultraschall-Säurereinigung: Verwendet Ultraschallenergie in sauren Medien, um anorganische Verunreinigungen, einschließlich Metallionen (wie Fe, Cu und Ni) und Oxidschichten, gezielt zu entfernen. Diese Stufe verbessert die Oberflächenreinheit weiter, indem sie Submikron-Verunreinigungen, die in Waferstrukturen eingebettet sein können, ablöst und die frequenzverstellbare Ultraschallwirkung für eine präzise Reinigung nutzt.
  • Reinwasser-Spülung: Die letzte Stufe verwendet hochreines Wasser (mit einem spezifischen Widerstand von ≥18,2 MΩ·cm), um restliche Reinigungsmittel gründlich wegzuspülen und sicherzustellen, dass die Waferoberfläche frei von chemischen Rückständen ist und die strengen Reinheitsstandards erfüllt, die für fortschrittliche Halbleiterprozesse erforderlich sind.
Technische Parameter:
  • Ultraschallfrequenzbereich: 40 kHz - 80 kHz, einstellbar, um sich an verschiedene Verunreinigungsarten und Waferspezifikationen anzupassen und die Kavitationsintensität für optimale Reinigungsergebnisse zu optimieren.
  • Betriebstemperatur: Wird bei 60℃ gehalten, eine Temperatur, die die Reaktivität der Reinigungslösungen erhöht und gleichzeitig potenzielle Schäden an den Siliziumwafern verhindert, wodurch eine gleichbleibende und zuverlässige Reinigungsleistung gewährleistet wird.
  • Materialkonstruktion: Schlüsselkomponenten, die mit Wafern und Reinigungsflüssigkeiten in Kontakt kommen, bestehen aus korrosionsbeständigen Materialien wie PFA und hochreinem Quarz, wodurch eine Sekundärkontamination vermieden und die langfristige Stabilität der Anlage gewährleistet wird.
Hauptvorteile:
  • Erzielt eine außergewöhnliche Partikelentfernungseffizienz und eliminiert effektiv Partikel bis zu einer Größe von 0,1 μm, um die strengen Anforderungen der Halbleiterfertigungsstandards (SEMI) zu erfüllen.
  • Die Kombination aus Ultraschall-Alkalireinigung, Ultraschall-Säurereinigung und Reinwasser-Spülung bildet einen vollständigen Reinigungszyklus, der eine umfassende Entfernung verschiedener Verunreinigungen gewährleistet.
  • Der einstellbare Frequenzbereich (40 kHz - 80 kHz) und die präzise Temperaturregelung (60℃) ermöglichen eine Anpassung an spezifische Waferreinigungsanforderungen und erhöhen die Prozessflexibilität.
  • Konzipiert für die einfache Integration in Halbleiterproduktionslinien, kompatibel mit automatisierten Waferhandhabungssystemen zur Straffung der Fertigungsabläufe.
Anwendung: Ideal für die Reinigung von Siliziumwafern in Prozessen wie Vor-Lithographie, Nach-Ätzen und Vor-Abscheidung in der 4-Zoll- bis 12-Zoll-Waferfertigung, geeignet für Forschungs- und Entwicklungs- sowie Massenproduktionsumgebungen.
Schlüsselwörter: Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger, Ultraschall-Alkalireinigung, Ultraschall-Säurereinigung, Reinwasser-Spülung, 40 kHz - 80 kHz, 60℃, Waferoberflächenbehandlung

Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger - 40KHz-80KHz Ultraschall alkalische/säurige Reinigung + Spülung mit reinem Wasser, 60°C 0Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger - 40KHz-80KHz Ultraschall alkalische/säurige Reinigung + Spülung mit reinem Wasser, 60°C 1

Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger - 40KHz-80KHz Ultraschall alkalische/säurige Reinigung + Spülung mit reinem Wasser, 60°C 2

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Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger - 40KHz-80KHz Ultraschall alkalische/säurige Reinigung + Spülung mit reinem Wasser, 60°C 4

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MOQ: 1
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Verpackungsdetails: Verpackung: Holzgehäuse, Holzrahmen, Dehnfolie Abmessungen: 12 M*2 M*2,8 M
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Dongguan, Guangdong
Markenname:
Jietai
Zertifizierung:
CE, FCC, ROHS, etc.
Modellnummer:
JTM-100504AD
Type:
Ultraschall-Alkalireinigung+Ultraschall-Säurereinigung+Reinwasser-Spülung
Reinigungsfrequenz:
40KHZ/80KHZ
Anzahl der Tanks:
10
Leistung:
120 kW
Gesamtabmessungen:
12M*2M*2.8M
Modell:
JTM-100504AD
Name:
Halbleiterreinigungsmaschine
Reinigungstemperatur:
60°C
Min Bestellmenge:
1
Preis:
¥800000
Verpackung Informationen:
Verpackung: Holzgehäuse, Holzrahmen, Dehnfolie Abmessungen: 12 M*2 M*2,8 M
Lieferzeit:
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Produktvorstellung: Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger
Speziell für die Halbleiterindustrie entwickelt, integriert diese hochpräzise Reinigungsanlage mehrstufige Ultraschallprozesse, um ultrareine Oberflächen auf Siliziumwafern zu erzielen, eine entscheidende Voraussetzung für die Gewährleistung einer hohen Ausbeute und Zuverlässigkeit in der Herstellung mikroelektronischer Bauelemente.
Kernreinigungsprozesse:
  • Ultraschall-Alkalireinigung: Nutzt Ultraschallkavitation in alkalischen Lösungen, um organische Verunreinigungen, Fotolackrückstände und große Partikel effektiv von Waferoberflächen und Mikrostrukturen zu entfernen. Die kontrollierte Energie, die durch Ultraschallwellen erzeugt wird, gewährleistet eine gründliche Reinigung auch in komplizierten Mustern und bereitet die Wafer auf die anschließende Säurebehandlung vor.
  • Ultraschall-Säurereinigung: Verwendet Ultraschallenergie in sauren Medien, um anorganische Verunreinigungen, einschließlich Metallionen (wie Fe, Cu und Ni) und Oxidschichten, gezielt zu entfernen. Diese Stufe verbessert die Oberflächenreinheit weiter, indem sie Submikron-Verunreinigungen, die in Waferstrukturen eingebettet sein können, ablöst und die frequenzverstellbare Ultraschallwirkung für eine präzise Reinigung nutzt.
  • Reinwasser-Spülung: Die letzte Stufe verwendet hochreines Wasser (mit einem spezifischen Widerstand von ≥18,2 MΩ·cm), um restliche Reinigungsmittel gründlich wegzuspülen und sicherzustellen, dass die Waferoberfläche frei von chemischen Rückständen ist und die strengen Reinheitsstandards erfüllt, die für fortschrittliche Halbleiterprozesse erforderlich sind.
Technische Parameter:
  • Ultraschallfrequenzbereich: 40 kHz - 80 kHz, einstellbar, um sich an verschiedene Verunreinigungsarten und Waferspezifikationen anzupassen und die Kavitationsintensität für optimale Reinigungsergebnisse zu optimieren.
  • Betriebstemperatur: Wird bei 60℃ gehalten, eine Temperatur, die die Reaktivität der Reinigungslösungen erhöht und gleichzeitig potenzielle Schäden an den Siliziumwafern verhindert, wodurch eine gleichbleibende und zuverlässige Reinigungsleistung gewährleistet wird.
  • Materialkonstruktion: Schlüsselkomponenten, die mit Wafern und Reinigungsflüssigkeiten in Kontakt kommen, bestehen aus korrosionsbeständigen Materialien wie PFA und hochreinem Quarz, wodurch eine Sekundärkontamination vermieden und die langfristige Stabilität der Anlage gewährleistet wird.
Hauptvorteile:
  • Erzielt eine außergewöhnliche Partikelentfernungseffizienz und eliminiert effektiv Partikel bis zu einer Größe von 0,1 μm, um die strengen Anforderungen der Halbleiterfertigungsstandards (SEMI) zu erfüllen.
  • Die Kombination aus Ultraschall-Alkalireinigung, Ultraschall-Säurereinigung und Reinwasser-Spülung bildet einen vollständigen Reinigungszyklus, der eine umfassende Entfernung verschiedener Verunreinigungen gewährleistet.
  • Der einstellbare Frequenzbereich (40 kHz - 80 kHz) und die präzise Temperaturregelung (60℃) ermöglichen eine Anpassung an spezifische Waferreinigungsanforderungen und erhöhen die Prozessflexibilität.
  • Konzipiert für die einfache Integration in Halbleiterproduktionslinien, kompatibel mit automatisierten Waferhandhabungssystemen zur Straffung der Fertigungsabläufe.
Anwendung: Ideal für die Reinigung von Siliziumwafern in Prozessen wie Vor-Lithographie, Nach-Ätzen und Vor-Abscheidung in der 4-Zoll- bis 12-Zoll-Waferfertigung, geeignet für Forschungs- und Entwicklungs- sowie Massenproduktionsumgebungen.
Schlüsselwörter: Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger, Ultraschall-Alkalireinigung, Ultraschall-Säurereinigung, Reinwasser-Spülung, 40 kHz - 80 kHz, 60℃, Waferoberflächenbehandlung

Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger - 40KHz-80KHz Ultraschall alkalische/säurige Reinigung + Spülung mit reinem Wasser, 60°C 0Halbleiter-Silizium-Wafer-Reiniger - 40KHz-80KHz Ultraschall alkalische/säurige Reinigung + Spülung mit reinem Wasser, 60°C 1

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