logo
Goede prijs. online

details van de producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
halfgeleiderreinigingsmachine
Created with Pixso. Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃

Merknaam: Jietai
Modelnummer: JTM-100504AD
MOQ: 1
Prijs: ¥800000
Leveringstermijn: 30-60 werkdagen
Betalingsvoorwaarden: t/t
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
Dongguan, Guangdong
Certificering:
CE, FCC, ROHS, etc.
Reinigingsfrequentie:
40 kHz/80 kHz
Type:
Ultrasone alkalisch wassen+Ultrasone zuurwassen+Suiver met zuiver water
naam:
halfgeleiderreinigingsmachine
Reinigingstemperatuur:
60°C
Totale afmetingen:
12M*2M*2.8M
Model:
JTM-100504AD
Aantal tanks:
10
Vermogen:
120kW
Verpakking Details:
Verpakking: Houten kist, houten frame, rekfolie. Afmetingen: 12M*2M*2.8M
Levering vermogen:
Het duurt 30 tot 60 dagen.
Productbeschrijving
Productintroductie: Reinigingssysteem voor halfgeleider siliciumwafers
Dit geïntegreerde reinigingssysteem is op maat gemaakt voor de hoogprecisie halfgeleiderfabricage en combineert meerfasige ultrasone processen om een oppervlaktezuiverheid van sub-ppb niveau te leveren, een cruciale voorwaarde voor de fabricage van siliciumwafers in geavanceerde node (≤7nm) micro-elektronicaproductie.
Stap-voor-stap reinigingsmechanisme:
  • Ultrasone alkalische reiniging: Werkt bij 40KHz-80KHz om gecontroleerde cavitatie in alkalische media te genereren, waardoor organische verontreinigingen (bijv. fotoresist, koolwaterstoffen) en deeltjes (≥1μm) efficiënt van waferoppervlakken en gestructureerde patronen worden verwijderd. De frequentie-instelbare ultrasone energie zorgt voor een uniforme reiniging over 4"-12" wafers, inclusief randafschuiningen en achteroppervlakken.
  • Ultrasone zure reiniging: Gebruikt hetzelfde frequentiebereik in zure oplossingen om zich te richten op anorganische onzuiverheden - met name metaalionverontreinigingen (Fe, Cu, Zn) en native oxide lagen (SiO₂). Deze fase maakt gebruik van door cavitatie geïnduceerde micro-jets om sub-100nm deeltjes die in sleuven of vias zijn ingebed, te verwijderen, gevalideerd door laserdeeltjestellers (≤5 deeltjes/wafer voor ≥0,1μm).
  • Spoelcyclus met zuiver water: De uiteindelijke spoeling met UPW (ultra-zuiver water, TOC ≤3ppb) elimineert restchemicaliën, waardoor een oppervlakte-weerstand van ≥18,2MΩ·cm wordt bereikt om te voldoen aan de SEMI F020-normen voor pre-depositie verwerking.
Technische specificaties:
  • Ultrasone frequentieband: 40KHz-80KHz (multifrequentie selecteerbaar via PLC, optimaliseert cavitatie-intensiteit voor verontreinigingstype)
  • Proces temperatuur: 60℃ (PID-gestuurd, ±0,5℃ tolerantie) om de chemische reactiviteit te versnellen zonder waferstress te induceren
  • Materiaalcompatibiliteit: Bevochtigde componenten in PFA en hoogzuiver aluminiumoxide om HF/H₂SO₄ corrosie te weerstaan, waardoor deeltjesafgifte wordt voorkomen
Kernprestatie-indicatoren:
  • Deeltjesverwijderingsefficiëntie (PRE) ≥99,9% voor ≥0,1μm verontreinigingen
  • Eliminatie van chemische residuen ≤0,1ng/cm² (ICP-MS geverifieerd)
  • Compatibel met geautomatiseerde cassetteverwerking (FOUP/SMIF) voor 24/7 fab-integratie
Toepassing: Essentieel voor pre-litho, post-CMP en pre-implant reiniging in logica-, geheugen- en sensor waferproductielijnen.
Sleutelwoorden: Halfgeleider waferreiniger, ultrasone alkalische/zure reiniging, UPW-spoeling, 40-80KHz, 60℃ proces, silicium wafer decontaminatie
Dit systeem zorgt voor consistente reinigingsprestaties om de opbrengst in grootschalige halfgeleiderproductieomgevingen te maximaliseren.

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 0Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 1

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 2

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 3

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 4

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 5

Goede prijs. online

Details Van De Producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
halfgeleiderreinigingsmachine
Created with Pixso. Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃

Merknaam: Jietai
Modelnummer: JTM-100504AD
MOQ: 1
Prijs: ¥800000
Verpakking: Verpakking: Houten kist, houten frame, rekfolie. Afmetingen: 12M*2M*2.8M
Betalingsvoorwaarden: t/t
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
Dongguan, Guangdong
Merknaam:
Jietai
Certificering:
CE, FCC, ROHS, etc.
Modelnummer:
JTM-100504AD
Reinigingsfrequentie:
40 kHz/80 kHz
Type:
Ultrasone alkalisch wassen+Ultrasone zuurwassen+Suiver met zuiver water
naam:
halfgeleiderreinigingsmachine
Reinigingstemperatuur:
60°C
Totale afmetingen:
12M*2M*2.8M
Model:
JTM-100504AD
Aantal tanks:
10
Vermogen:
120kW
Min. bestelaantal:
1
Prijs:
¥800000
Verpakking Details:
Verpakking: Houten kist, houten frame, rekfolie. Afmetingen: 12M*2M*2.8M
Levertijd:
30-60 werkdagen
Betalingscondities:
t/t
Levering vermogen:
Het duurt 30 tot 60 dagen.
Productbeschrijving
Productintroductie: Reinigingssysteem voor halfgeleider siliciumwafers
Dit geïntegreerde reinigingssysteem is op maat gemaakt voor de hoogprecisie halfgeleiderfabricage en combineert meerfasige ultrasone processen om een oppervlaktezuiverheid van sub-ppb niveau te leveren, een cruciale voorwaarde voor de fabricage van siliciumwafers in geavanceerde node (≤7nm) micro-elektronicaproductie.
Stap-voor-stap reinigingsmechanisme:
  • Ultrasone alkalische reiniging: Werkt bij 40KHz-80KHz om gecontroleerde cavitatie in alkalische media te genereren, waardoor organische verontreinigingen (bijv. fotoresist, koolwaterstoffen) en deeltjes (≥1μm) efficiënt van waferoppervlakken en gestructureerde patronen worden verwijderd. De frequentie-instelbare ultrasone energie zorgt voor een uniforme reiniging over 4"-12" wafers, inclusief randafschuiningen en achteroppervlakken.
  • Ultrasone zure reiniging: Gebruikt hetzelfde frequentiebereik in zure oplossingen om zich te richten op anorganische onzuiverheden - met name metaalionverontreinigingen (Fe, Cu, Zn) en native oxide lagen (SiO₂). Deze fase maakt gebruik van door cavitatie geïnduceerde micro-jets om sub-100nm deeltjes die in sleuven of vias zijn ingebed, te verwijderen, gevalideerd door laserdeeltjestellers (≤5 deeltjes/wafer voor ≥0,1μm).
  • Spoelcyclus met zuiver water: De uiteindelijke spoeling met UPW (ultra-zuiver water, TOC ≤3ppb) elimineert restchemicaliën, waardoor een oppervlakte-weerstand van ≥18,2MΩ·cm wordt bereikt om te voldoen aan de SEMI F020-normen voor pre-depositie verwerking.
Technische specificaties:
  • Ultrasone frequentieband: 40KHz-80KHz (multifrequentie selecteerbaar via PLC, optimaliseert cavitatie-intensiteit voor verontreinigingstype)
  • Proces temperatuur: 60℃ (PID-gestuurd, ±0,5℃ tolerantie) om de chemische reactiviteit te versnellen zonder waferstress te induceren
  • Materiaalcompatibiliteit: Bevochtigde componenten in PFA en hoogzuiver aluminiumoxide om HF/H₂SO₄ corrosie te weerstaan, waardoor deeltjesafgifte wordt voorkomen
Kernprestatie-indicatoren:
  • Deeltjesverwijderingsefficiëntie (PRE) ≥99,9% voor ≥0,1μm verontreinigingen
  • Eliminatie van chemische residuen ≤0,1ng/cm² (ICP-MS geverifieerd)
  • Compatibel met geautomatiseerde cassetteverwerking (FOUP/SMIF) voor 24/7 fab-integratie
Toepassing: Essentieel voor pre-litho, post-CMP en pre-implant reiniging in logica-, geheugen- en sensor waferproductielijnen.
Sleutelwoorden: Halfgeleider waferreiniger, ultrasone alkalische/zure reiniging, UPW-spoeling, 40-80KHz, 60℃ proces, silicium wafer decontaminatie
Dit systeem zorgt voor consistente reinigingsprestaties om de opbrengst in grootschalige halfgeleiderproductieomgevingen te maximaliseren.

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 0Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 1

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 2

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 3

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 4

Halfgeleider Silicium Wafer Reiniger - 40KHz-80KHz Ultrasoon Alkalisch/Zuur Reinigen + Puur Water Spoelen, 60℃ 5